Hardware in the Loop-Test in Kombination mit Continuous Integration

Dieser Artikel zeigt die Integration zwischen Continuous Integration Systems und HIL-Testsystemen. Probleme und Herausforderungen bei der Integration von HIL-Testsystemen mit Continuous Integration Systemen werden diskutiert. Der automatische Aufbau der Testsysteme und der Teststart werden vorgestellt. Außerdem wird die automatische Auswertung der Testergebnisse beschrieben. Die Erfahrungen aus verschiedenen realen Testprojekten werden vorgestellt und die Vorteile der Continuous Integration im Zusammenhang mit dem HIL-Test demonstriert. Es konnte in den Projekten eine 100%ige Automatisierung des Aufbaus der Testsysteme und des Testobjekts erreicht werden. Darüber hinaus sind der Teststart und die Testausführung zu 100% automatisiert.

Kristian Trenkel
Kristian Trenkel

Dr.-Ing. Kristian Trenkel studierte ab 2001 an der FH Jena Elektrotechnik/Technische Informatik. Nach erfolgreichem Abschluss des Studiums als...


Daniel Heinrich
Daniel Heinrich

Daniel Heinrich...

45 Minuten Vortrag

Einsteiger
Zeit

12:10-12:55
22. Juli


Themengebiet

Embedded Testing


Raum

München


ID

Mi6.2

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