Hardware in the Loop-Test in Kombination mit Continuous Integration
Dieser Artikel zeigt die Integration zwischen Continuous Integration Systems und HIL-Testsystemen. Probleme und Herausforderungen bei der Integration von HIL-Testsystemen mit Continuous Integration Systemen werden diskutiert. Der automatische Aufbau der Testsysteme und der Teststart werden vorgestellt. Außerdem wird die automatische Auswertung der Testergebnisse beschrieben. Die Erfahrungen aus verschiedenen realen Testprojekten werden vorgestellt und die Vorteile der Continuous Integration im Zusammenhang mit dem HIL-Test demonstriert. Es konnte in den Projekten eine 100%ige Automatisierung des Aufbaus der Testsysteme und des Testobjekts erreicht werden. Darüber hinaus sind der Teststart und die Testausführung zu 100% automatisiert.
Einsteiger
Zeit
12:10-12:55
22. Juli
Themengebiet
Embedded Testing
Raum
München
ID
Mi6.2