Test Intelligence: Lücken schließen und überflüssige Tests entfernen, um mehr Fehler in weniger Zeit zu finden

Viele Teams müssen immer mehr Funktionalität in immer weniger Zeit testen. Historisch gewachsene Test-Suites stoßen dabei oft an ihre Grenzen, da sie gleichzeitig Zuviel und Zuwenig testen. Zuviel, da sie Tests enthalten, die Kosten erzeugen, aber kaum Mehrwert gegenüber ähnlichen Tests bieten. Zuwenig, da trotzdem wichtige Funktionalität ungetestet bleibt.

Im Vortrag stelle ich Analysetechniken vor, um diese Probleme im eigenen System aufzuzeigen. Historienanalyse des Versionskontrollsystems zeigt, wo in der Vergangenheit im System am häufigsten Fehler aufgetreten sind. Test-Gap-Analyse deckt auf, welche Code-Änderungen noch ungetestet sind. Und Pareto-Test-Analysen identifizieren die Tests mit dem schlechteste Kosten-Nutzen-Verhältnis. Ich stelle hierzu jeweils die zugrundeliegenden Forschungsarbeiten und unsere Erfahrungen aus dem Praxiseinsatz vor.

 

Referent: Dr. Sven Amann, CQSE GmbH

Dr. Sven Amann ist Berater für Software-Qualität bei der CQSE GmbH. Er studierte Informatik an der TU Darmstadt und der PUC in Rio de Janeiro und promovierte am Fachgebiet Softwaretechnik der TU Darmstadt. Sven Amann publiziert und hält Vorträge auf Konferenzen und Fachtagen. Sein Themenschwerpunkt ist Software-Qualitätssicherung auf allen Ebenen.

 

Key Facts

Themengebiet: Embedded Testing

Datum und Uhrzeit: 04. November 2021, 15:55 bis 16:40

Raum: Madrid

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